应我院邀请，郑州大学首席教授刘俊杰教授、西安电子科技大学博士生导师李云松教授分别于3月29日、4月3日在我院会议室做了题为“Outlook and Challenges of Electrostatic Discharge (ESD) Protection of Modern and Future Integrated Circuits”和“面向应用的高光谱遥感图像在轨智能化协同处理技术”的学术报告。报告会由我院院长顾玉宗教授主持，我院部分教师及研究生参加了上述学术报告会。

刘俊杰教授首先介绍了ESD源、模型、保护方案和测试结果。静电放电（ESD）是电子元器件可靠性的主要威胁之一。这是一种有限数量电荷从一个物体转移到另一个物体的事件。这一过程可以在极短的时间内产生非常高的电流。超过35%的芯片损坏都可以归因于ESD事件。因此，设计片上和片外ESD结构，保护集成电路免受ESD损害，是半导体工业中的一个重要研究方向。同时，MOS处理技术的进步使ESD引起的故障更加突出。刘教授随后介绍了在Si CMOS、Si BiCMOS、GaAs、GaN和新兴技术中，集成电路ESD保护解决方案的设计、实现和优化。许多半导体公司正在研究ESD保护问题。可以肯定地预测，ESD保护解决方案将成为现代和未来的电子商业化的一个关键要素。

李云松教授从高光谱遥感图像在轨智能化协同处理技术的研究背景出发，全面介绍了高光谱遥感图像在轨智能化协同处理在各个领域的应用，并分析了该技术的实现难点、研究方案以及关键技术突破。同时，李教授在报告中详细阐述了如何获取高光谱遥感图像并进行各类校正以及标定、如何在轨提升高光谱图像空间分辨率的同时有效保持高光谱图像的光谱信息、如何建立统一的高光谱图像在轨智能处理算法框架、如何设计核心算法的高效硬件架构及可以适应复杂运算的在轨高性能硬件处理平台等课题。最后，李教授向听众展示了他的研究成果在“嫦娥一号”卫星、“嫦娥二号”卫星、“嫦娥三号”卫星、“神舟七号”伴随小卫星、“天宫一号”目标飞行器、“天绘一号”测绘卫星以及一系列遥感卫星等多个重大工程中的成功应用。

两位教授的讲座深入浅出，生动形象，图文并茂将对应技术的前沿化成果传达给了在座的师生，加深了大家对相关领域关键技术问题的理解，开阔了师生们的研究思路和学术研究方向。